產(chǎn)品特點：

高精度測量：采用先進電磁感應技術和微處理芯片，如 D-FN-sm 在 0-100μm 范圍內(nèi)誤差≤2μm，100-1300μm 范圍內(nèi)誤差≤3%。

功能多樣：部分探頭有曲率補償功能，如 D-F-ro，在平面校準后可測曲面。

兼容性強：如 FD10 探頭適配 Isoscope/Deltascope/Dualscope 系列（FMP10/FMP20/FMP30/FMP40 等）主機。

操作簡便：與菲希爾膜厚儀等配合，操作界面直觀，且部分探頭內(nèi)置芯片，可自動識別模式，無需預校準。

工作原理：基于電磁感應原理（DIN EN ISO 2178），探頭靠近可磁化基體材料上的不可磁化涂層時，產(chǎn)生的磁場會在基體中產(chǎn)生感應電流，涂層會影響磁場分布和感應電流大小，通過測量變化計算涂層厚度。可用于測量可磁化基體材料上的不可磁化涂層厚度。